仪器介绍：X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，可测定元素含量。仪器由激发源和探测系统构成，X射线管产生入射X射线，激发被测样品，产生X荧光，探测器对X荧光进行检测，具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点，被广泛用于元素分析和化学分析。